4-point resistivity measurements / 비저항값은 물질상수이므로 모든 재료에 따라 다르다. 이것은 같은 재료일 경우 같은 값을 갖는다는 것을 의미한다. 먼저 4-probe 측정법으로 구한 자료를 보면 동일한 재료일 경우 그 값이 대략 0.3으로 일정한 것을 볼 수 있다. (Data에서 두께차원의 값들의 유효숫자는 1~4 째 자리 사이이다. 따라서 유효숫자가 1 째 자리라고 하면 그 값은 0.…
MTM (Methods Time Measurement) / 제조공정이나 업무에서 그 작업방법에는 불필요한 동작으로 인한 작업손실이 있으므로 개선되어야 할 문제점들이 많다. 즉 불필요한 시간을 줄일 수 있는 작업방법 개선을 위한 표준시간설정법은 MTM의 사용이다. 또한 MTM은 표준자료를 작성하기 위해서 가장 유용하며 가장 많이 사용되고 있고 MTM을 사용하면 rating이나 필요없다는 큰 장점을 살릴 …
전자파 거리의 원리[Electronic Distance Measurement Devices ;EDM] / 1)전자파(電磁波) 거리의 원리(Electronic Distance Measurement Devices ;EDM)전자파 측거의로 측정하고자 하는 2점간에 전자파를 왕복시키면 반사하여 되돌아오는 전자파의 위상(位相)은 거리에 상응하여 현장에서 거리측량을 실시하는 것으로 지형에 좌우되는 일이 없이 거리가 측정되는 이점이 있다.1) EDM측정기…
본 자료는 I-V measurement 실험 보고서입니다. i-vmeasurement / I Introduction II.Carrier Transport Phenomena in general materials 1. Carrier drift 2. Carrier diffusion 3. Total current density IIII-V characteristics 1. Metal-Insulator(or Semiconductor) contact 1.1 Energy levels in crystals 1.2 Neutral contact 1.3 Blocking contact(Schottky contact) 1.4 Ohmic c…
1. 서론 2. Measurement Error Study 3. GR&R 분석 4. 결론 FileSize : 337K / 1. 서론 2. Measurement Error Study 3. GR&R 분석 4. 결론 / 통계적 공정관리 추진시 데이터의 신뢰성 확보는 무엇보다 중요하며, 이를 위해 여 러 가지 통계적 방법을 이용할 수 있다. 그 중에서 백재욱과 조진남(1996)에서 설명하 는 Measurement Error Study, GR&R(gauge repeatabil…
재공실 / 1. 반도체 P-n 접합에 대한 설명 2. 반도체의 전기적 특성에 대한 설명 3. 태양전지와 LED의 작동원리 4. Hall Measurement와 4-Point Probe 측정원리 5. Hall Measurement와 4-Point Probe로 측정한 저항이 다른 이유 / 3. 태양전지와 LED의 작동원리 태양전지는 태양에너지로 전기를 만들어 내기 때문에 햇빛만 있으면 된다. 반도체의 성질을 이용해 빛에너지를 전기에너지로 …
‥향 Ⅱ. 연구 방법 및 방향 -변수설명 Name Measurement Name Measurement ISACTIVE binary DEPOSIT ordinal ACCTTYPE binary EFFECTIVEDATE interval AUTOPAY binary INITMONTHLYFEE ord
‥#9702; Instruments ◦ Measurements ◦ Fourier Transform Spectrometers ∘ Inherent Advantages of Fourier Transforn Spectrometer ∘ Components of Fourier Transform Instruments ∘ Instrument Designs ◦ FT-IR Spectrometer 측정 순서 / 적외선 흡수 분광법은 물질의 적외선 흡수를 측정하여 분석에 이용하는 것을 말한다. 적외선 영역은 파…
SPM 관련 개발 기술로는 LFM(Lateral Force Microscope): 표면의 마찰력을 재는 원자현미경, FMM(Force Modulation Microscope): 시료의 경도(硬度)를 재는 원자현미경, PDM(Phase Detection Microscope) : 시료의 탄성 및 점성등을 재는 원자현미경, MFM(Magnetic Force Microscope): 자기력(磁氣力)을 재는 원자현미경, EFM(Electrostatic Force Microscope): 시료의 전기적 특성을 재는…
‥ FRF Curves) - 직접 측정(Direct Measurement) ★ 공간 모델(Spatial Models) ★ Mobility 골격선과 시스템 모델(Mobility skeletons and System Models) / 시스템 모델의 3가지 주요한 범주가 있다는 것을 상기해 보자. 질량, 강성 및 감쇠 특성 값으로 구성된 공간 모델(Spatial model); 고유 주파수와 모드 형태로 구성된 모드 모델(Modal mode). 일련의 주파수 응답 함수로…
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![전자파 거리의 원리[Electronic Distance Measurement Devices ;EDM]](/View/전자파 거리의 원리[Electronic Distance Measurement Devices ;EDM]_hwp_01_.gif)
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![[재료공학실험2-KU] (결과보고서) 전자재료실험. 반도체 p-n 접합의](/View/[재료공학실험2-KU] (결과보고서) 전자재료실험. 반도체 p-n 접합의_docx_01_.gif)
 전자재료실험. 반도체 p-n 접합의_docx_01_.gif',22,'레포트','공학기술',1700) "미리보기"){kind=small}
![[공학]데이터마이닝 회귀분석 - 통신사 고객 이탈 예측 모형](/View/[공학]데이터마이닝 회귀분석 - 통신사 고객 이탈 예측 모형_ppt_01_.gif)
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