1) 2-input NAND gate
a. Transient simulation result
2) 2-input NOR gate
a. Transient simulation result
3) 2-input XOR gate
a. Transient simulation result
1. DC analysis
DC ºÐ¼®Àº µðÁöÅÐ ÁýÀûȸ·ÎÀÇ Àü±âÀû µ¿ÀÛÀ» ÀÌÇØÇÏ´Â µ¥ Áß¿äÇÑ ¿ªÇÒÀ» ÇÑ´Ù. DC ºÐ¼®À» ÅëÇØ °¢ ³í¸® °ÔÀÌÆ®, ¿¹¸¦ µé¾î NAND, NOR, XOR °ÔÀÌÆ®ÀÇ Á¤Àû Àü¾Ð ¹× Àü·ù Á¶°ÇÀ» ÆľÇÇÒ ¼ö ÀÖ´Ù. ÀÌ Á¤º¸´Â è¹ö¿¡¼ ȸ·ÎÀÇ ¼º´ÉÀ» Æò°¡ÇÏ°í, Àü¾Ð ·¹º§ °£ÀÇ ½Å·Ú¼ºÀ» È®ÀÎÇÏ´Â µ¥ Áß¿äÇÏ´Ù. ȸ·Î¿¡¼ »ç¿ëµÇ´Â °¢ °ÔÀÌÆ®´Â ÀÔ·Â Àü¾Ð¿¡ µû¶ó ƯÁ¤ÇÑ Ãâ·Â Àü¾ÐÀ» ³ªÅ¸³»¸ç, À̴ ȸ·ÎÀÇ ³í¸®Àû µ¿ÀÛÀ» °áÁ¤Áþ´Â´Ù. ÀϹÝÀûÀ¸·Î, DC ºÐ¼®Àº ȸ·ÎÀÇ ÀԷ¿¡ ´ëÇÑ Ãâ·ÂÀÇ Àü±âÀû ÀÀ´äÀ» ÃøÁ¤Çϱâ À§ÇØ °íÁ¤µÈ ÀÔ·Â Àü¾Ð °ªÀ» »ç¿ëÇÏ¿© ¼öÇàµÈ´Ù. ¿¹¸¦ µé¾î, NAND °ÔÀÌÆ®ÀÇ °æ¿ì ÀÔ·ÂÀÌ HIGH(³í¸® ÀÏ ¶§ Ãâ·ÂÀº LOW(³í¸® 0)À¸·Î ³ªÅ¸³ª¾ß Çϸç, ÀÔ·ÂÀÌ ¸ðµÎ LOWÀÏ ¶§ Ãâ·ÂÀº HIGH·Î µÇ¾î¾ß ÇÑ´Ù. ÀÌ·¯ÇÑ Æ¯¼ºÀ» ÀÌÇØÇϱâ À§ÇØ, NAND °ÔÀÌÆ®ÀÇ ½Ã¹Ä·¹À̼ÇÀ» ÅëÇØ Àü¾ÐÀÇ »óŸ¦ ±â·ÏÇØ¾ß ÇÑ´Ù. ÀÔ·Â A¿Í B°¡ ¸ðµÎ 0VÀÏ ¶§, Ãâ·ÂÀº Vdd(¿¹¸¦ µé¾î, 5V)°¡ µÇ¾î¾ß ÇÏ°í, ÀÔ·ÂÀÌ Çϳª¶óµµ ¡¦(»ý·«)
|