X-RAY Diffraction장비 (XRD) 이해 보고서

1. history

X-Ray Diffraction(XRD) 장비의 역사는 20세기 초반으로 거슬러 올라간다. X선은 1895년 독일의 물리학자 빌헬름 뢴트겐에 의해 발견되었다. 뢴트겐은 이 발견으로 인해 최초의 X선 이미지를 제작하였고, X선은 곧 의료 분야를 포함하여 다양한 과학적 용도로 사용되기 시작하였다. X선을 이용한 물질 구조 분석의 가능성이 열리면서, 많은 연구자들이 X선을 활용한 실험을 수행하였다. 1920년대에 들어서, 폴 브래그와 그의 아버지 윌리암 홉킨스 브래그는 X선을 결정에 입사시키는 실험을 통해 회절 현상을 발견하였다. 그들은 1913년 브래그의 법칙을 제안하였고, 이는 X선 회절이 결정의 내부 구조를 연구하는 중요한 방법이 됨을 보여주었다. 브래그의 법칙은 X선이 결정의 격자면에 부딪힐 때 회절되는 각도를 측정함으로써, 결정 구조를 분석할 수 있는 수학적 기초를 제공하였다. XRD 장비의 발전은 1930년대와 1940년대에 본격화되었다. 당시 연구자들은 더 나은 감도와 해상력을 가진 XRD 시스템을 개발하기 시작하였다. 이 시기의 중요한 발전 중 하나는 X선 튜브의 개선으로, 더 높은 에너지의 X선을 생성할 수 있게 되었다. 이런 개선 덕분에 연구…(생략)